https://storage.yandexcloud.net/dgs-media-public/content_assets/2026/03/bychkov-3d84c6fac5af.jpg
Бычков Анатолий Владимировичинженер I категории отдела перспективных разработок "НПП "ЭКРА"

Статья представляет собой интерес, т.к. в ней рассматриваются актуальные в настоящее время, вопросы тестирования устройств поддерживающих МЭК 61850. Использование дополнительной информации, присутствующей в потоке данных, например информации о тестовых режимах устройств, упрощает процесс их проверки. В настоящее время симулятор RTDS в основном используется классически, например для тестирования устройства ОАПВ, как наиболее сложного элемента автоматики. То есть, моделирование различных ситуаций и режимов на ЛЭП и тестирование работы различных видов защит с функцией ОАПВ, а так же взаимодействие этих защит с другими устройствами РЗА. Так же симулятор использовался для проведения испытаний устройства защиты шин поддерживающего МЭК 61850. Для разработки и тестирования устройств поддерживающих МЭК 61850 так же используется ряд устройств других производителей.

https://storage.yandexcloud.net/dgs-media-public/content_assets/2026/03/kirienko1-f4ec0af99e32.jpg
Кириенко Олег Владимировичруководитель департамента инновационных разработок "ЭнергопромАвтоматизация"

В статье рассматривается очень важный вопрос - корректная обработка устройствами РЗА признаков качества данных, передаваемых по протоколам GOOSE и Sampled Values. Конечно, такие проверки можно выполнить более простыми средствами чем RTDS, однако описанный подход является корректным и имеет право на существование. В своей практике мы применяем комплекс RTDS для тестирования алгоритмов РЗА и ПА в режиме замкнутого цикла. Наиболее интересные испытания проводились по тестированию устройств РЗА и АСУ ТП для блока генератор-трансформатор НижГЭС, работающих по стандарту МЭК 61850-8-1 и 9-2. В рамках испытаний была собрана полная модель блока, функционирующая в режиме реального времени, и проведены комплексные испытания всех интеллектуальных электронных устройств.

https://storage.yandexcloud.net/dgs-media-public/content_assets/2026/03/ilin-e91f0c79d71e.jpeg
Ильин Максим Дмитриевичинженер опытного полигона Цифровая подстанция НТЦ "ФСК ЕЭС

Очень интересная статья, посвящённая важной теме. На мой взгляд, информацию о поведении устройства при получении тестовых или некачественных данных необходимо заносить в документацию (PIXIT), а испытания на соответствие МЭК 61850 дополнить проверкой соответствия поведения устройства с описанным в документации. Но так же необходимо уточнение, какие обязательные биты качества должно уметь выставлять оборудование, потому что в стандарте к этому нет требований и производитель делает все на свое усмотрение.